Otomatik optik muayene (AOI), baskılı devre kartı (PCB) (veya LCD, transistör) üretiminin otomatik görsel muayenesidir. Bu muayenede, bir kamera test edilen cihazı hem felaket niteliğindeki arızalar (örneğin eksik bileşen) hem de kalite kusurları (örneğin fileto boyutu veya şekli ya da bileşen eğriliği) açısından otonom olarak tarar. Temassız bir test yöntemi olduğu için üretim sürecinde yaygın olarak kullanılır. Çıplak devre kartı muayenesi, lehim pastası muayenesi (SPI), ön-akış ve son-akış ve diğer aşamalar dahil olmak üzere üretim sürecinin birçok aşamasında uygulanır.
Tarihsel olarak, AOI sistemlerinin öncelikli kullanım alanı lehim reflow veya "üretim sonrası" olmuştur. Bunun başlıca nedeni, reflow sonrası AOI sistemlerinin, tek bir sistemle, hattaki çoğu kusur türünü (bileşen yerleşimi, lehim kısa devreleri, eksik lehim vb.) tek bir noktada denetleyebilmesidir. Bu şekilde, hatalı kartlar yeniden işlenir ve diğer kartlar bir sonraki işlem aşamasına gönderilir.
Gönderim zamanı: 28 Aralık 2021